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　　FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM能量色散X射線熒光光譜儀進入自動化測量世界FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要組件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個區(qū)別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-復雜形狀不再是難題！自上而下的測試方式還有另一個優(yōu)點：可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺，

　　金屬表面油膜厚度測試儀|INFRALYTIC紅外油膜測厚儀NG2簡介：作為德國一家中型公司，INFRALYTIC提供針對不尋?；驀揽镰h(huán)境下的高質量計量C新和解決方案。INFRALYTIC開發(fā)和生產高精度傳感器，用于無接觸、非破壞性和快速化合物識別和定量，尤其適用基于紅外光譜學下的光學科技。INFRALYTIC冰傳感器能夠檢測風力渦輪機轉子，道路上，結構上以及空調系統中的結冰程度。INFRALYTIC的油膜測量儀確定金屬板上的油層厚度。INFRALYTIC的IOS NG代油膜計量器早已成為鈑金生產和加工行業(yè)

　　AEROTRAC II能應用于不同的領域，包括來自噴嘴的液滴、霧化器、殺蟲劑、護膚液、加濕器、噴霧分離器、粉體涂料和不同的粉體。AEROTRAC II光學系統的是具有非常寬的測量空間，并且提供多種類型的測量，提供不同的附件以適合不同客戶的應用。提供不同類型噴霧器的固定夾具幾種不同夾具適合不同尺寸和形狀的噴霧器，這力求了任何時候都是在同一位置噴霧使用Tempax玻璃皿進行濕法測量通過使用Tempax玻璃皿能夠測量漿料的粒徑分布干法測量使用干法分散裝置（PD-10S）噴射粉體，能夠進行干法的粒徑分布測量噴霧粒

　　德國Colloid Metrix公司是一家研發(fā)和表征交替特征的儀器公司。在膠體配方分析方面， CMX公司的STABINO，ZETA-CHECK和NANO-FLEX為用戶提供了全新的流動/Zeta電位和粒度的測量方法，同時STABINO配合NANO-FLEX還提供多種滴定功能，可以實現不同PH值, 不同濃度的鹽溶液以及聚電解質的溶液體系中顆粒的大小和Zeta電位的變化以及等電點的測量。180DLS的測量原理：激光通過光纖和藍寶石窗口聚集在樣品上。窗口會反射部分入散光。激光的反射光和散射光在檢測器上被測量。信

　　納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術Zeta電位測量：Microtrac以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的見解，經過多年的市場調研和潛心研究，推出的NANOTRAC WAVE II采用微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。與傳統的Zeta電位分析技術相比，NANOTRAC WAVE II采用的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需準確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加

　　NANOTRAC FLEX —— 真正的180 動態(tài)光背散射測量技術NANOTRAC FLEX的探頭設計可以實現只需要一滴液體滴在探頭的頂部進行測量，這樣測量只需小的樣品量2μl。探頭同時也適合1.5mL Eppendorf 管。對于NANOTRAC FLEX 來說，每個容器都可以用作測量池，不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探頭設計可以實現在一個反應過程中離線或在線監(jiān)測顆粒的粒徑變化。在反應中，分散相通常處于是流動或攪拌中，分散相的運動將會掩蓋布朗運動，在這種情況下用DLS測量幾乎不可能

　　Microtrac的BLUEWAVE通過利用專門針對球形顆粒的Mie補償理論和專門針對非球形顆粒的Modified Mie計算的原理，為各種應用提供準確、可靠和可重復的粒度分析。BLUEWAVE針對低于1微米的材料進行了優(yōu)化測量。BLUEWAVE測量的粒徑范圍為0.01至2800微米。ISO 13320-1粒度分析–光衍射法|Microtrac激光衍射分析儀|BLUEWAVE粒徑分析儀性能指標：三激光，藍/紅，多探測器，多角度光學系統真藍光激光器（非LED）分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正

　　激光粒度分析儀S3500系列性能指標：三激光，紅色，多探測器，多角度光學系統對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法測量范圍從0.02到2800m干濕法測量封閉的光路尋求光學元件的保護，很少或沒有操作員干預優(yōu)點：利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進行分析的靈活性改進的Mie計算允許用戶準確測量復雜的粒子從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間固定探測器堅固耐用，并尋求正確的定位設備占地空間小，節(jié)省實驗室的寶貴空間Microtrac S3500系列產品：藍波2型(BWDL))：濕法

　　▲使用激光衍射(ISO 13320:2020)和動態(tài)圖像分析(ISO 13322-2)從0.01到4000微米的粒度和形狀分析▲使用藍色激光技術具有出色的亞微米測量能力。能夠解決亞微米范圍內的狹窄和多模態(tài)分布▲在粒徑分布中檢測少量的過大或過小的粒徑分布▲同步測量技術和混合物分布分析。一個分析產生了顆粒大小分布和過30個形態(tài)參數▲快速測量時間——通常為30秒▲干濕測量模塊之間的快速簡單切換。在不到15秒內改變從濕到干模式▲完整的IQ / OQ驗證包符合FDA 21 CFR Part 11指南干濕模塊之間的切

　　OPTACOM粗糙度輪廓測量儀特點：? 適用于各種輪廓測量任務的強大全能系統? 使用可選的粗糙度模塊一次測量輪廓和粗糙度? 直接在處具有 30 nm 的出色真實分辨率? 自動Y工作臺可選? 軸導軌和頭部由一個工件一體制成? X 軸與 Z 軸連接，對無間隙? 非接觸式線性增量測量系統，對無磨損? 機器校準（包括探頭校準）在 3 分鐘內完成? 使用 optacom 快速更換緊固件快速更換測針筆尖 – 無需工具且不會損失精度? 高精度線性軸，采用高強度航空鋁制成的機身集成驅動器

　　產品原理：采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的光，從而得到這個點距離透鏡的垂直距離。- 再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標，即X-Z坐標- 然后以S路徑獲得物體每個點的三維X-Y-Z坐標- 后將采集的三維坐標數據交給的三維處理軟件進行各種表面參數的分析。 - 軟件能夠自動獲取用戶關心的表面

　　ST400型三維表面輪廓儀是一款多功能的三維形貌儀，采用的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品，并具有多種選項，包含360旋轉工作臺，原子力顯微鏡模塊，光學顯微鏡，特征區(qū)域定位等多種功能模塊。產品原理：采用白光共聚焦色差技術- 利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。- 位于白光光源的對稱位置上的靈敏探測器系統用來接收經被測點漫反射后的光。- 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收