所屬系列：ZJYQ-GYXWCLSM-ZEISS
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蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡（CLSM）是一臺用于材料分析的儀器，可在實驗室或多用戶設施中表征三維微觀結構和表面形貌。LSM 900可對納米材料、金屬、聚合物和半導體進行三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動光學顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時具有所有的光學顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無需切換顯微鏡，您將可以進行原位觀察，節(jié)省大量的時間。自動化也會給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的，例如表面粗糙度的評估。
分析水平圖像上單個像素位置在高度上的亮度變化曲線，就可以得到當前像素位置的物體高度值。綜合整個視場內(nèi)所有像素位置的高度信息就可以形成測試面積上的高度分布云圖。
?使用Shuttle＆Find關聯(lián)顯微技術模塊擴展您的共聚焦顯微鏡功能實現(xiàn)從光學顯微鏡切換至電子顯微鏡，反之亦然。將成像和分析方法結合。在材料分析應用中獲取樣品信息。過程可重復。
